走査型電子顕微鏡(SEM)
FEIには、超高分解能の画像処理と高スループットの分析性能を兼ね備えたTeneo SEMなど、用途の広い高性能走査型電子顕微鏡(SEM)製品ラインが多数あります。
FEI SEM製品の概要
SEM装置
透過型電子顕微鏡(TEM)
FEIの透過型電子顕微鏡(TEM)は、オングストローム以下レベルまでの超高分解能が要求されるアプリケーションに対応して操作が完全に統合および自動化されています。Titan S/TEM製品ラインには、世界中で市販されている中で最もパワフルな4台のS/TEMが含まれています。
FEI TEM製品の概要
TEM装置
DualBeam装置
FEIのDualBeam (FIB/SEM)装置は、3次元顕微鏡および分析で行う材料キャラクタリゼーション、工業向け故障解析、プロセス制御アプリケーションにおいて推奨されるソリューションです。
FEI DualBeam装置の概要
DualBeam装置
FIB装置
FEIの集束イオンビーム(FIB)ラインには、断面、画像処理、および透過型電子顕微鏡(TEM)の試料調製だけでなく、高度な集積回路において高速、効率的、コスト効果の高い編集を行うのに理想的な2つのモデルがあります。
FEI集束イオンビーム装置の概要
特殊製品
FEIは、材料科学、ライフサイエンス、電子機器、天然資源などのアプリケーションに合わせたソリューション、カスタム装置、および最先端のソフトウェアパッケージを作っています。
FEI装置の一覧を見る
ソフトウェア
画像からのベストアンサーを。私たちの製品は、研究活動や生産現場で直面する課題への迅速、的確で、先進的なソリューションを可能にします。
研究および工業用データの可視化と解析を世界的にリードするFEIは、データの取得、画像処理ワークフレームのみならず、3Dデータの数値化やシミュレーション、そして高性能3D開発ツールまでを含む幅広いソフトウェアを提供します。
ソフトウェア